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高周波検査用(DC~110GHz帯)

DC~110GHz帯 RFプローブ検査ソリューション

PENPROBE.CAは、DC~110GHzまでの周波数帯域における各種半導体デバイスやモジュールの高周波回路検査用に設計された高性能プローブです。PENPROBE.CAは、低損失同軸ケーブルとフォトリソパターンメッキプロセス技術を用いて低損失積層LCP※(液晶ポリマー)フィルム上に成形されたNiメッキコンタクタから構成されます。
PENROBE.CAは、ニッケルメッキコンタクタの硬さ、積層LCPフィルムの弾性とフォトリソパターンメッキプロセスにおける高精度な平面パターンニングにより、優れたコンタクト性とコプラナリティを実現しています。PENPROBE.CAは、各種マイクロ波用プローブステーションに取り付けて使用することができます。

(※ LCP: Liquid Crystal Polymer)

PENPROBE.CA

コネクタ取付角度:30°タイプ

コネクタ取付角度:45°タイプ

コネクタ取付角度:90°タイプ

コンタクタ先端 SEM写真

インピーダンス基準基板(ISS)

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販売について 販売代理店
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